Tratado de topografía tomo II. Métodos topográficos

Se ocupa de los Métodos Topográficos, tanto en Altimetría como en Planimetría, que conducen a la obtención del apoyo fotogramétrico o levantamiento directo de un plano de cualquier extensión, precisión y escala. Aplicando la Teoría de Errores desarrollada en el Tomo 1, se va formando ordenadamente un cuerpo de doctrina topográfica en las sucesivas cuestiones de observación, cálculo y compensación rigurosa.

ISBN: 9788428323093 | 978-84-28323-09-3